2015 EOS/ESD Symposium in Asia
ÀϽÃ: 2015³â 6¿ù 30ÀÏ(È) ~ 7¿ù 3ÀÏ(±Ý)
Àå¼Ò: ¼¿ï »ï¼ºµ¿
COEX, ÄÁÆÛ·±½º¼¾Å¸
308È£
Àü½Ãȸ: COEX, ÄÁÆÛ·±½º¼¾Å¸ 307È£
ÀϽÃ: 2015³â 7¿ù 2ÀÏ(¸ñ) ~ 7¿ù3ÀÏ(±Ý)
À̹ø¿¡ ÁøÇàµÇ´Â
EOS/ESD Symposium in Asia´Â Á¾Àü¿¡ µ¿³²¾Æ¿Í µ¶ÀÏ¿¡¼ °³ÃֵǾú´ø Factory Symposium°ú ¹Ì±¹¿¡¼ ¸Å³â °³ÃֵǴ EOS/ESD SymposiumÀÇ Áß°£ÀûÀÎ Çà»ç°¡ µÉ ¿¹Á¤ÀÔ´Ï´Ù.
À̹ø Çà»çÀÇ ÁÖ¿ä À̺¥Æ®ÀÎ
Technical ProgramÀº Device Design ºÎºÐ°ú
System Level Å×½ºÆ®, ±×¸®°í
Factory LevelÀÇ ESD Á¦¾î¿¡ °üÇÑ ´Ù¾çÇÏ°í Æø ³ÐÀº ÁÖÁ¦ÀÇ
Technical PresentationÀÌ ÁøÇàµÉ ¿¹Á¤ÀÔ´Ï´Ù.
½ÄÀü Çà»ç·Î ÁøÇàµÇ´Â
Tutorial ProgramÀºANSI/ESD S20.20 - Process Design Overview°ú Process Assessment, Contamination and ESD Issues in
Flat Panel Display Manufacturing Process ±×¸®°í, Systemlevel ESD Codesign µîÀÇ ESD Association Á¤±Ô Tutorial ProgramÀÌ ÁøÇàµÉ ¿¹Á¤ÀÔ´Ï´Ù.
Ưº°À̺¥Æ®·Î ÁøÇàµÇ´Â Invited Talk ¿¡¼´Â, ù ³¯ ¿µ±¹ ESD SpecialistÀÎ Jeremy SmallwoodÀÇESD in Industry - Present and Future¸¦ µÑ° ³¯ imecÀÇ ¼ö¼® ESD ¿£Áö´Ï¾îÀÎ Dimitri LintenÀÇOverview of the State-of-the-Art ESD
Reliability Research for FinFET and 3D IC°¡ ¹ßÇ¥µÉ ¿¹Á¤ÀÌ´Ù.
ù³¯ Àú³á Special Event·Î ÁøÇàµÇ´Â WorkshopÀºRobert BoschÀÇ ESD ¿£Áö´Ï¾îÀÎ Christoph
ThienelÀÇElectrical
Overstress (EOS) of Semiconductors (SC) in Automotive Applications, Root
Causes, and ConclusionsÀ» ÁÖÁ¦·Î ÇÑ ÀÚÀ¯ Åä·ÐÀ¸·Î ÁøÇàµÉ ¿¹Á¤ÀÔ´Ï´Ù.
ÁÖ¿ä Çà»ç°¡ ÁøÇàµÇ´Â 7¿ù 2ÀÏ(¸ñ) ~7¿ù 3ÀÏ(±Ý)Àº Àü½Ãȸ°¡ °³ÃÖµÉ ¿¹Á¤À̸ç, 13 ~16°³ Á¤µµÀÇ ºÎ½º°¡ ÁغñµÇ¾î ´Ù¾çÇÑ ESD ¾÷üÀÇ Àü½Ãȸ ºÎ½º¸¦ ÅëÇÑ Á¦Ç° üÇè°ú »ó´ãÀÌ °¡´ÉÇÒ ¿¹Á¤ÀÔ´Ï´Ù.
Çà»ç¿Í °ü·ÃÇÑ ÀÚ¼¼ÇÑ ¹®ÀÇ»çÇ×À̳ª ±Ã±ÝÇÑ